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涂层测厚仪MiniTest720/730/740的详细介绍
涂层测厚仪MiniTest720/730/740
新的MiniTest700涂层测厚仪产品线，加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在全球涂层测厚市场的领导地位。
创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性
- 测量范围达15mm，可F、N或FN探头，提供内置或外接探头
- FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体，操作方便不易出错
优点一览
SIDSP使测量不受干扰，测值更加精确
- 可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
- FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
- 温度补偿功能避免温度变化引起的错误
- 生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
- 大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
- 读数和统计值能单独调出
- 超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
- 菜单指引操作，25种语言可选
- 带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
- 可下载更新软件
技术参数
主机
主机型号
MiniTest720
MiniTest730
MiniTest740
探头类型
内置
外置
内置外置可换
数据记忆组数
10
10
100
存储数据量
最多10,000个
最多10,000个
最多100,000个
统计值
读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合国际标准和规范
ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准
校准模式
出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准，使用者可调节补偿值
极限值监控
声、光报警提示超过极限
测量单位
μm，mm，cm；mils，inch，thou
数据接口
IrDA 1.0(红外接口)
电源
2节AA电池
标准
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2
操作温度 /存放温度
-10℃~60℃/-20℃~70℃
体积
157mm x75.5mmx49mm
重量
约175g
约210g
约175g(内置)/230g(外置)
技术参数
探头特性
F1.5，N07，FN1.5
F2
F5，N2.5，FN5
F15
F
N
F
F
N
F
测量范围
0~1.5mm
0~0.7mm
0~2mm
0~5mm
0~2.5mm
0~15mm
使用范围
小工件，薄涂层
粗糙表面
标准探头，使用广泛
厚涂层
测量原理
磁感应
电涡流
磁感应
磁感应
电涡流
磁感应
信号处理
探头内部32位信号处理(SIDSP)
精确度
±(1μm+0.75%读值)
±(1.5μm+0.75%读值)
±(5μm+0.75%读值)
重复性
±(0.5μm+0.5%读值)
±(0.8μm+0.5%读值)
±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
最小曲率半径(凸)
1.0mm
1.5mm
5mm
最小曲率半径
(凹，外置探头)
7.5mm
10mm
25mm
(凹，内置探头)
30mm
30mm
30mm
最小测量面积
Ø5mm
Ø10mm
Ø25mm
最小基体厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
0.5mm
40μm
1mm
连续模式下测量速度
每秒20个读数
单值模式下最大测量速度
每分钟70个读数
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涂层测厚仪MiniTest720/730/740
新的MiniTest700涂层测厚仪产品线，加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在全球涂层测厚市场的领导地位。
创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性
- 测量范围达15mm，可F、N或FN探头，提供内置或外接探头
- FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体，操作方便不易出错
优点一览
SIDSP使测量不受干扰，测值更加精确
- 可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
- FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
- 温度补偿功能避免温度变化引起的错误
- 生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
- 大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
- 读数和统计值能单独调出
- 超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
- 菜单指引操作，25种语言可选
- 带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
- 可下载更新软件
技术参数
主机
|
主机型号 |
MiniTest720 |
MiniTest730 |
MiniTest740 |
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|
探头类型 |
内置 |
外置 |
内置外置可换 |
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|
数据记忆组数 |
10 |
10 |
100 |
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|
存储数据量 |
最多10,000个 |
最多10,000个 |
最多100,000个 |
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统计值 |
读值个数、最小值、最大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置) |
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|
校准程序符合国际标准和规范 |
ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准 |
|||
|
校准模式 |
出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准，使用者可调节补偿值 |
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|
极限值监控 |
声、光报警提示超过极限 |
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|
测量单位 |
μm，mm，cm；mils，inch，thou |
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|
数据接口 |
IrDA 1.0(红外接口) |
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|
电源 |
2节AA电池 |
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|
标准 |
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 |
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|
操作温度 /存放温度 |
-10℃~60℃/-20℃~70℃ |
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|
体积 |
157mm x75.5mmx49mm |
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|
重量 |
约175g |
约210g |
约175g(内置)/230g(外置) |
|
技术参数
|
探头特性 |
F1.5，N07，FN1.5 |
F2 |
F5，N2.5，FN5 |
F15 |
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|
F |
N |
F |
F |
N |
F |
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|
测量范围 |
0~1.5mm |
0~0.7mm |
0~2mm |
0~5mm |
0~2.5mm |
0~15mm |
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|
使用范围 |
小工件，薄涂层 |
粗糙表面 |
标准探头，使用广泛 |
厚涂层 |
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测量原理 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
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信号处理 |
探头内部32位信号处理(SIDSP) |
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精确度 |
±(1μm+0.75%读值) |
±(1.5μm+0.75%读值) |
±(5μm+0.75%读值) |
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|
重复性 |
±(0.5μm+0.5%读值) |
±(0.8μm+0.5%读值) |
±(2.5μm+0.5%读值) |
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|
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
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最小曲率半径(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
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最小曲率半径 |
(凹，外置探头) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
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(凹，内置探头) |
30mm |
30mm |
30mm |
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最小测量面积 |
Ø5mm |
Ø10mm |
Ø25mm |
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最小基体厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
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连续模式下测量速度 |
每秒20个读数 |
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|
单值模式下最大测量速度 |
每分钟70个读数 |
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